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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
反射比檢測(cè)儀、玻璃可見(jiàn)光反射比測(cè)試儀是具有良好結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng)的儀器，可以測(cè)試的材料有：具光學(xué)性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽(yáng)鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿(mǎn)足GB-10810.3-2006測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品分類(lèi)
減反射膜反射比智能測(cè)試儀特點(diǎn)
減反射膜反射比智能測(cè)試儀是具有良好結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和精密的雙光束光學(xué)系統(tǒng)的儀器，可以測(cè)試的材料有：具光學(xué)性能的分子材料制成的眼鏡片，太陽(yáng)鏡，駕駛用鏡，偏光鏡等滿(mǎn)足GB-10810.3-2006測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈，德國(guó)歐士朗鎢燈，美國(guó)派來(lái)茲?rùn)z測(cè)器。保證了儀器性能的高可靠性。
具有開(kāi)放式的樣品室設(shè)計(jì)，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測(cè)、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線(xiàn)測(cè)試。
掃描曲線(xiàn)可以和TFC膜系設(shè)計(jì)軟件對(duì)接，以便鍍膜時(shí)及時(shí)調(diào)整參數(shù)。
主要技術(shù)指標(biāo)
★★光路結(jié)構(gòu) | CT型 單色器焦距250mm |
顯示方式： | 6英寸 320×240 點(diǎn)陣帶背光數(shù)字 LCD |
★★光源燈： | 預(yù)調(diào)日本濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈 歐司朗長(zhǎng)壽命鹵鎢燈 |
測(cè)光方式 | 透過(guò)率，吸光度，能量，反射率 |
光譜帶寬 | 2nm |
波長(zhǎng)范圍 | 190nm～1100nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | ≤±0.3nm |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | ≤0.1nm |
★光度范圍 | 0-999.9%(t),-4A～4A，0-9999C，1-9999F |
光度準(zhǔn)確度 | ≤±0.3%(t) (0～100%t) ≤±0.002A(0～0.5A) ≤±0.004A(0.5～1A) |
光度重復(fù)性 | ≤0.15%(t) (0-100%t) ≤0.001A(0～0.5A) ≤0.002A(0.5～1A) |
雜光 | ≤0.03%(t) （220nm NaI，360nm NaNO2）） |
★穩(wěn)定性 | ≤±0.0004A/h（500nm，開(kāi)機(jī)預(yù)熱30min） |
噪聲 | ≤±0.0003A |
★基線(xiàn)平直度 | ≤±0.001A（190～1100nm） |
★★導(dǎo)數(shù)分辨率 | >0.5 |
掃描速度 | 快 中 慢 |
★★電源電壓 | 100V～240V范圍內(nèi)都可以使用 50/60±1Hz |
儀器尺寸
| 650×450×220（mm） |
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